Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/16548
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Гапон, Ю.К. | - |
dc.contributor.author | Кустов, Максим | - |
dc.date.accessioned | 2022-12-11T07:58:55Z | - |
dc.date.available | 2022-12-11T07:58:55Z | - |
dc.date.issued | 2022-10-19 | - |
dc.identifier.citation | Національний технічний університет " Харківський політехнічний інститут" | uk_UA |
dc.identifier.issn | 2222-2944 | - |
dc.identifier.uri | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/16548 | - |
dc.language.iso | uk | uk_UA |
dc.publisher | Національний технічний університет " Харківський політехнічний інститут" | uk_UA |
dc.title | Аналіз джерел небезпеки на ВЕЕР | uk_UA |
dc.type | Thesis | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Кафедра спеціальної хімії та хімічної технології |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Микрокад Гапон 2022.pdf | 947,8 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.