Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/1909
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorТесленко, Олексій Олексійович-
dc.date.accessioned2017-06-17T09:16:45Z-
dc.date.available2017-06-17T09:16:45Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationВісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Динамiка та мiцнiсть машин. – 2010. – T. 1, N 69. - С. 142-146. – Режим доступу : DOI : 10.20998/2078-9130.2010.69.49500.ru_RU
dc.identifier.urihttp://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/1909-
dc.descriptionApplication of photoelasticity finite elements method is investigated for research of residual stresses in the crystals that radiation-exposed infra-red laser. Residual stresses and mistakes are obtained. In supposition of two-dimensional stresses, the error is small, and the method is correct.ru_RU
dc.description.abstractУ роботі розглядається застосування методу кінцевих фотопружних елементів до дослідження залишкових напружень у кристалах опромінених ІК-лазером. Визначені залишкові напруження та помилка в їх значеннях. Доведено, що в припущенні двовимірних напружень величина помилки припустима , а сам метод визначення коректний.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherНТУ «ХПИ»ru_RU
dc.titleПрименение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазеромru_RU
dc.typeArticleru_RU
Розташовується у зібраннях:Кафедра пожежної і техногенної безпеки об'єктів та технологій

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pdf_52_49500-99147-1-PB.pdf247,75 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.