Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/3865Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Семкив, Олег Михайлович | - |
| dc.contributor.author | Е.И. Сухарькова | - |
| dc.date.accessioned | 2017-09-12T14:36:24Z | - |
| dc.date.available | 2017-09-12T14:36:24Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.uri | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/3865 | - |
| dc.publisher | Прикладна геометрія, дизайн, об’єкти інтелектуальної власності. - Київ: НТУУ «КПІ». 2015.–С.195–199. | ru_RU |
| dc.title | Визначення критичних значень параметрів фазових траєкторій рівнянь. | ru_RU |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра наглядово-профілактичної діяльності | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Отсканировано 10.09.2017 8-54.pdf | 673,65 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.