Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/7300
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Шкоропатенко, Антон В. | - |
dc.contributor.author | Андрющенко, Любовь А. | - |
dc.contributor.author | Kudin, Alexander M. | - |
dc.contributor.author | Зосим, Дмитрий И. | - |
dc.date.accessioned | 2018-08-30T20:03:55Z | - |
dc.date.available | 2018-08-30T20:03:55Z | - |
dc.date.issued | 2012 | - |
dc.identifier.citation | 3-я межд. конф. «Инженерия сцинтилляционных материалов и радиационные технологии» Дубна 19-23 ноября 2012 г.: тезисы докладов. – Дубна, ОИЯИ. - 2012. – с 51-52 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/7300 | - |
dc.description.abstract | Рассмотрено влияние состояния поверхности на спектрометрические характеристики сцинтиллятора. Предложен метод восстановления мертвого слоя у поверхности для регистрации короткопробежных излучений гигроскопичными кристаллами на основе NaI и CsI | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Объединенный институт ядерных исследований | ru_RU |
dc.subject | мертвый слой | ru_RU |
dc.subject | кристалл NaI:Tl | ru_RU |
dc.subject | состояние поверхности | ru_RU |
dc.title | Восстановление мертвого слоя для регистрации короткопробежных излучений гигроскопичными кристаллами на основе NaI и CsI | ru_RU |
dc.type | Other | ru_RU |
Розташовується у зібраннях: | Кафедра фізико-математичних дисциплін |
Файли цього матеріалу:
Немає файлів, що асоціюються з цим матеріалом.
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.