Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/13367
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Sysoeva, Elena P. | - |
dc.contributor.author | Sysoeva, Elena V. | - |
dc.contributor.author | Трефілова, Л.М. | - |
dc.contributor.author | Kudin, Alexander M. | - |
dc.contributor.author | Zosim, Dmitriy I | - |
dc.date.accessioned | 2021-07-14T10:51:16Z | - |
dc.date.available | 2021-07-14T10:51:16Z | - |
dc.date.issued | 2003 | - |
dc.identifier.citation | International conference SCINT-03, Valensia, 8-12 Sept. 2003, p.17-18 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/13367 | - |
dc.description | poster presentatoin at SCINT-2003 | ru_RU |
dc.description.abstract | It has been shown that both the light yield at α-excitation and the α/γ-ratio depend on the time of crystal storage after polishing. On the base of the idea of the formation of deformation-induced point defects in a thin surface-adjacent layer, the causes of the temporary increasing in light yield for α-particle are explained. Given is an explanation of the results obtained by Gwin and Murray concerning the relation between the α/γ ratio and the Tl concentration. In our opinion, the noted paper cannot be taken into account for experimental verification of theoretical models | ru_RU |
dc.language.iso | en_US | ru_RU |
dc.publisher | SCINT | ru_RU |
dc.relation.ispartofseries | Abstracts;p. 66-67 | - |
dc.subject | CsI:Tl crystal | ru_RU |
dc.subject | alpha / gamma ratio | ru_RU |
dc.subject | dead layer | ru_RU |
dc.subject | scintillation efficiency | ru_RU |
dc.title | Factors which define the alpha/gamma-ratio in CsI(Tl) crystals | ru_RU |
dc.type | Other | ru_RU |
Розташовується у зібраннях: | Кафедра фізико-математичних дисциплін |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
factors_alpha_to_gamma.pdf | 22,44 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.