Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4721
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorKudin, Alexander M.-
dc.contributor.authorSysoeva, Elena P.-
dc.contributor.authorSysoeva, Elena V.-
dc.contributor.authorTrefilova, Larisa N.-
dc.contributor.authorZosim, Dmitry I.-
dc.date.accessioned2017-10-15T20:41:51Z-
dc.date.available2017-10-15T20:41:51Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationNuclear Instruments and Methods in Physics Research A537 (2005) 105-112ru_RU
dc.identifier.urihttp://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4721-
dc.description.abstractDependences of light yield and α/γ ratio on the Tl concentration have been studied within a wide range of shaping times. It is shown that the α/γ ratio essentially depends on the Tl concentration. Proper combination of the Tl concentration and optimum shaping time in electronics allows to obtain detectors with rather high light output for γ-rays, α-particles and α/γ ratio values. It has been shown that both the light yield at α-excitation and the α/γ-ratio depend on the time of crystal storage after polishing. On the basis of the idea of the formation of deformation-induced point defects in a thin surface-adjacent layer, the causes of the temporary increasing in light yield for α-particle are explained. An explanation is given of the results obtained by Gwin and Murray concerning the fact that the α/γ ratio is practically independent on Tl concentration.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherElsevier Pressru_RU
dc.subjectScintillatorru_RU
dc.subjectCsI:Tlru_RU
dc.subjectLight yieldru_RU
dc.subjectActivator concentrationru_RU
dc.subjectScintillation prosessru_RU
dc.titleFactors which define the α/γ ratio in CsI:Tl crystalsru_RU
dc.typeArticleru_RU
Розташовується у зібраннях:Кафедра фізико-математичних дисциплін

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
alpha_gamma_ratio_NIMA.pdf485,9 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.