Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/1909| Назва: | Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером |
| Автори: | Тесленко, Олексій Олексійович |
| Дата публікації: | 2010 |
| Видавництво: | НТУ «ХПИ» |
| Бібліографічний опис: | Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Динамiка та мiцнiсть машин. – 2010. – T. 1, N 69. - С. 142-146. – Режим доступу : DOI : 10.20998/2078-9130.2010.69.49500. |
| Короткий огляд (реферат): | У роботі розглядається застосування методу кінцевих фотопружних елементів до дослідження залишкових напружень у кристалах опромінених ІК-лазером. Визначені залишкові напруження та помилка в їх значеннях. Доведено, що в припущенні двовимірних напружень величина помилки припустима , а сам метод визначення коректний. |
| Опис: | Application of photoelasticity finite elements method is investigated for research of residual stresses in the crystals that radiation-exposed infra-red laser. Residual stresses and mistakes are obtained. In supposition of two-dimensional stresses, the error is small, and the method is correct. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/1909 |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра пожежної і техногенної безпеки об'єктів та технологій |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| pdf_52_49500-99147-1-PB.pdf | 247,75 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.