Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorОнищенко, Геннадий М.-
dc.contributor.authorГальчинецкий, Леонид П.-
dc.contributor.authorГринев, Борис В.-
dc.contributor.authorРыжиков, Владимир Д.-
dc.contributor.authorKudin, Alexander M.-
dc.date.accessioned2019-04-27T15:42:37Z-
dc.date.available2019-04-27T15:42:37Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationТезисы докладов конф. НКРК-10, т. 2.- с. 326ru_RU
dc.identifier.urihttp://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944-
dc.descriptionДоклад на национальной конференции по росту кристаллов, Институт кристаллографии, Москва, 2010ru_RU
dc.description.abstractПредложен новый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристаллов, основанный на измерении энергетической зависимости светового выхода.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherИнститут кристаллографииru_RU
dc.subjectScintillation Crystalru_RU
dc.subjectDefect Diagnosticru_RU
dc.subjectdead layerru_RU
dc.titleНовый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристалловru_RU
dc.title.alternativeNew Spectrometric Technique for Diagnostic of Scintillation Crystalsru_RU
dc.typeOtherru_RU
Розташовується у зібраннях:Кафедра фізико-математичних дисциплін

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
метод_диагностики.pdf101,54 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.