Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944| Title: | Новый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристаллов |
| Other Titles: | New Spectrometric Technique for Diagnostic of Scintillation Crystals |
| Authors: | Онищенко, Геннадий М. Гальчинецкий, Леонид П. Гринев, Борис В. Рыжиков, Владимир Д. Kudin, Alexander M. |
| Keywords: | Scintillation Crystal Defect Diagnostic dead layer |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | Институт кристаллографии |
| Citation: | Тезисы докладов конф. НКРК-10, т. 2.- с. 326 |
| Abstract: | Предложен новый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристаллов, основанный на измерении энергетической зависимости светового выхода. |
| Description: | Доклад на национальной конференции по росту кристаллов, Институт кристаллографии, Москва, 2010 |
| URI: | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944 |
| Appears in Collections: | Кафедра фізико-математичних дисциплін |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| метод_диагностики.pdf | 101,54 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.