Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944| Назва: | Новый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристаллов |
| Інші назви: | New Spectrometric Technique for Diagnostic of Scintillation Crystals |
| Автори: | Онищенко, Геннадий М. Гальчинецкий, Леонид П. Гринев, Борис В. Рыжиков, Владимир Д. Kudin, Alexander M. |
| Ключові слова: | Scintillation Crystal Defect Diagnostic dead layer |
| Дата публікації: | 2010 |
| Видавництво: | Институт кристаллографии |
| Бібліографічний опис: | Тезисы докладов конф. НКРК-10, т. 2.- с. 326 |
| Короткий огляд (реферат): | Предложен новый спектрометрический метод диагностики сцинтилляционных кристаллов, основанный на измерении энергетической зависимости светового выхода. |
| Опис: | Доклад на национальной конференции по росту кристаллов, Институт кристаллографии, Москва, 2010 |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/8944 |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра фізико-математичних дисциплін |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| метод_диагностики.pdf | 101,54 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.