Please use this identifier to cite or link to this item: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/9421
Title: Фактори, що впливають на радіаційне пошкодження сцинтиляційного кристала CSI
Authors: Шпилинська, О.Л.
Трефiлова, Л.М.
Положій, Е.М.
Лебединський, О.М.
Keywords: кристал CsI
утворення F-центрів
механізм
розробка датчиків
Issue Date: May-2019
Publisher: НТУ “ХПІ”
Citation: Трефiлова Л.М., Положій Е.М., Лебединський О.М., Шпилинська О.Л. Фактори, що впливають на радіаційне пошкодження сцинтиляційного кристала CSI / Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров’я: тези доповідей ХXVІІ міжнародної науково-практичної конференції MicroCAD-2019, 15–17 травня 2019 р.: у 5 ч. Ч. V. / за ред. проф. Сокола Є.І. – Харків: НТУ “ХПІ”. – с. 143.
Abstract: Відповідно до проведених експериментів, під час опромінення навіть відносно невеликими дозами 1-100 Гр у кристалі CsI утворюються F-центри. Причиною їх утворення є забрудненість домішками OH–- і CO3 2–-іонів. Вказані іони утворюються внаслідок процесів гідролізу і піролізу, що проходять у процесі вирощування кристала CsI. У доповіді запропоновано механізм утворення F-центрів за участю вказаних кисневмісних іонів
URI: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/9421
Appears in Collections:Кафедра спеціальної хімії та хімічної технології

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ТЕЗИ MicroCAD 2019 ВІТВ НТУ ХПІ-Трефилова.pdfУтворення F- центрів кристала CsI389,73 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.