Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805
Название: Метод фотоупругости для обьемнонапряженых тонких пластин/
Авторы: Тесленко, Олексій Олексійович
Дата публикации: 30-авг-1991
Издательство: Препринт ИМК-91-20
Библиографическое описание: Препринт ИМК-91-20, Харьков: институт монокристаллов
Серия/номер: ИМК-91-20;
Краткий осмотр (реферат): Исследовано влияние некомпланарности в тонких прозрачных изотропных и анизотропных пластинах на устойчивость метода фотоупругости. Рассмотрены различные виды напряженого состояния и величины напряжений. Исследования проводились методами моделирования на ЭВМ. Показано, что для величины некомпланарности напряжений в 10% от компланарных компонент ошибка не превышает 7%.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805
Располагается в коллекциях:Кафедра пожежної і техногенної безпеки об'єктів та технологій

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
pdf_19_1991.pdf6,36 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.