Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805
Назва: Метод фотоупругости для обьемнонапряженых тонких пластин/
Автори: Тесленко, Олексій Олексійович
Дата публікації: 30-сер-1991
Видавництво: Препринт ИМК-91-20
Бібліографічний опис: Препринт ИМК-91-20, Харьков: институт монокристаллов
Серія/номер: ИМК-91-20;
Короткий огляд (реферат): Исследовано влияние некомпланарности в тонких прозрачных изотропных и анизотропных пластинах на устойчивость метода фотоупругости. Рассмотрены различные виды напряженого состояния и величины напряжений. Исследования проводились методами моделирования на ЭВМ. Показано, что для величины некомпланарности напряжений в 10% от компланарных компонент ошибка не превышает 7%.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805
Розташовується у зібраннях:Кафедра пожежної і техногенної безпеки об'єктів та технологій

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pdf_19_1991.pdf6,36 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.