Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805
Title: | Метод фотоупругости для обьемнонапряженых тонких пластин/ |
Authors: | Тесленко, Олексій Олексійович |
Issue Date: | 30-Aug-1991 |
Publisher: | Препринт ИМК-91-20 |
Citation: | Препринт ИМК-91-20, Харьков: институт монокристаллов |
Series/Report no.: | ИМК-91-20; |
Abstract: | Исследовано влияние некомпланарности в тонких прозрачных изотропных и анизотропных пластинах на устойчивость метода фотоупругости. Рассмотрены различные виды напряженого состояния и величины напряжений. Исследования проводились методами моделирования на ЭВМ. Показано, что для величины некомпланарности напряжений в 10% от компланарных компонент ошибка не превышает 7%. |
URI: | http://repositsc.nuczu.edu.ua/handle/123456789/4805 |
Appears in Collections: | Кафедра пожежної і техногенної безпеки об'єктів та технологій |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
pdf_19_1991.pdf | 6,36 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.